非飽和快速老化試驗箱（HAST非飽和高壓加速老化試驗箱）是一種通過模擬高溫、高濕及高壓環(huán)境，加速材料或產(chǎn)品老化過程的實驗室設備，廣泛應用于電子、汽車、航空航天等領域，用于評估產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的可靠性和耐久性。以下是其核心要點：

一、核心功能與原理

加速老化測試

通過提升溫度（通常105℃~155℃）、壓力（0.2~3.5kg/cm2）和濕度（65%~100%RH），將數(shù)年自然老化過程壓縮至數(shù)天完成。例如，半導體封裝在高壓高濕下，濕氣會沿膠體或?qū)Ь€架接口滲入，導致金屬腐蝕或引腳短路，HAST可快速暴露此類缺陷。

非飽和濕度控制

與飽和高壓加速老化試驗箱不同，非飽和型可調(diào)節(jié)濕度（如75%RH），模擬更接近實際使用場景的濕度條件，適用于對濕度敏感的材料測試。

多環(huán)境應力耦合

結(jié)合溫度、濕度、壓力及可選偏壓（如8~55條偏壓端子），模擬復雜環(huán)境應力，全面評估產(chǎn)品性能。

二、技術(shù)特點

高精度環(huán)境控制

溫濕度波動度：±0.5℃/±2.5%RH（非飽和模式）

均勻度：±0.5℃/±5%RH

分辨率：溫度0.1℃、濕度0.1%RH、壓力0.1kg/cm2

確保實驗數(shù)據(jù)準確性和可重復性。

安全與穩(wěn)定性設計

配備壓力安全閥、超壓保護器、過熱保護及無水干燒保護裝置。

采用SUS316L不銹鋼箱體，耐腐蝕性強。

支持緩降壓、排氣、排水功能，避免試驗后壓力溫度急變影響結(jié)果。

智能化操作

支持電腦連接，USB數(shù)據(jù)導出與曲線保存。

人性化界面，操作簡單，便于設置參數(shù)和讀取數(shù)據(jù)。

三、應用領域

電子行業(yè)

測試IC半導體、連接器、線路板、磁性材料等在高溫高濕下的穩(wěn)定性。

評估電子元器件的耐濕性、氣密性及封裝可靠性。

汽車產(chǎn)業(yè)

模擬電動汽車電池及管理系統(tǒng)在惡劣環(huán)境下的耐久性。

測試汽車零部件（如傳感器、線束）的密封性能。

航空航天

模擬高海拔、高溫工作條件，確保材料可靠性。

測試航空電子設備在惡劣環(huán)境下的性能。

其他領域

光伏組件、高分子材料、EVA等材料的加速老化壽命試驗。

制藥行業(yè)：檢測藥品包裝的密封性。

四、技術(shù)標準與合規(guī)性

滿足國際標準：

IEC60068-2-66（環(huán)境試驗第2部分：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱）

JESD22-A102E（加速水汽抵抗性——無偏置高壓蒸煮）

JESD22-A110E（高加速溫濕度應力試驗）

符合GB/T2423.40-2013等國內(nèi)標準，確保測試結(jié)果惡劣性。

五、市場意義與優(yōu)勢

縮短研發(fā)周期

傳統(tǒng)老化測試需數(shù)年，HAST可在數(shù)天內(nèi)完成，加速產(chǎn)品迭代。

降低測試成本

通過高效加速老化，減少樣品數(shù)量和測試時間，節(jié)省資源。

提升產(chǎn)品質(zhì)量

快速暴露產(chǎn)品缺陷，為設計改進提供依據(jù)，增強市場競爭力。

支持定制化需求

可根據(jù)客戶產(chǎn)品定制專用產(chǎn)品架，適應不同測試場景。

六、非飽和快速老化試驗箱典型設備參數(shù)（以某型號為例）

參數(shù)規(guī)格

內(nèi)箱容積￠300×D450、￠400×D550

溫度范圍105℃~155℃（可選）

壓力范圍0.2~3.5kg/cm2

濕度范圍65%~100%RH（可調(diào)）

溫濕度波動度±0.5℃/±2.5%RH（非飽和模式）

測試時間最多連續(xù)600小時

偏壓端子標配8條（可選8~55條）關注技術(shù)參數(shù)

根據(jù)測試需求選擇溫度、壓力、濕度范圍及控制精度。

評估安全功能

優(yōu)先選擇具備多重安全防護（如超壓保護、過熱保護）的設備。

考慮智能化需求

支持數(shù)據(jù)導出、曲線保存及遠程監(jiān)控的設備可提升測試效率。